弯扭曲测试仪本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。功能：长边弯曲、短边弯曲、扭曲可同时测试。一次测试卡片数量：数量（长边弯曲)≥5张、数量（短边弯曲）≥5张、数量（扭曲）≥5张，共计数量≥15张。扭曲完成或机器暂停时，短边、长边弯曲槽和长边扭曲槽都可自由取卡。

卡弯扭曲测试仪技术参数：

型号：MX(IC)

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，扭曲角度30°

长边总线大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边总线小位移量为2mm±0.50mm，

短边总线大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边总线小位移量为1mm±0.50mm，

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

夹具安装尺寸完全按照*标准执行。

IC卡动态弯扭试验机用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。